一、高低溫沖擊試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介：

  冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車、通訊、集成電路、半導(dǎo)體等領(lǐng)域，可發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在缺陷，做應(yīng)力篩選試驗(yàn)，提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量控制。

二、高低溫沖擊試驗(yàn)箱廠家特點(diǎn)：

1、對(duì)于冷熱沖擊測(cè)試來(lái)說(shuō)，一些國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（MIL-STD，IEC，DIN等）要求在溫度循環(huán)時(shí)有短暫的調(diào)節(jié)為常溫的步驟，本試驗(yàn)箱是專為滿足這些國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的。

2、試料槽*靜止，可由測(cè)試孔外加負(fù)載配線。

3、蓄熱方式可避免使用職業(yè)傷害。（注：液態(tài)氣體所產(chǎn)生發(fā)氣，吸入肺部致使肺部氧氣量減少，而產(chǎn)生工作倦怠，集中力降低）。

4、冷熱沖擊箱采用觸控式彩色液晶顯示人機(jī)界面控制器，操作簡(jiǎn)單、學(xué)習(xí)容易。

5、溫度控制精度高，全部采用PID自動(dòng)演算 控制。

6、可選擇始動(dòng)位置，高溫或低溫開(kāi)始循環(huán)。

7、具有預(yù)約起動(dòng)功能。

8、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及自動(dòng)除霜。

9、試驗(yàn)箱分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部份，各區(qū)箱體采用*的隔熱結(jié)構(gòu)，測(cè)試時(shí)可選擇二槽（兩箱法）或三槽（三箱法）沖擊試驗(yàn)。

10、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(dòng)（手動(dòng)）除霜。運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線，異常及故障點(diǎn)顯示說(shuō)明及排除方法。

11、有異常或故障顯示及排除方法說(shuō)明。

12、歐美原裝高效率復(fù)疊壓縮冷凍機(jī)組，運(yùn)轉(zhuǎn)噪音低，省能源之設(shè)備。

三、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

8.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

四、高低溫沖擊試驗(yàn)箱廠家技術(shù)參數(shù)：