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一、冷熱沖擊試驗機簡介：
冷熱沖擊試驗箱廣泛應用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車、通訊、集成電路、半導體等領域，可發(fā)現產品潛在缺陷，做應力篩選試驗，提高產品的可靠性和進行產品質量控制。
二、冷熱沖擊試驗機技術參數：
型號 | BS-40H | BS-80H | BS-150H | BS-200H | BS-252H |
內箱尺寸W*H*D(mm) | 400*350*300 | 500*400*400 | 600*500*500 | 600*600*550 | 700*600*600 |
外箱尺寸W*H*D(mm) | 1100*1930*1450 | 1200*2000*1550 | 1300*1230*1670 | 1300*2500*1700 | 1400*2630*1750 |
重量(KG) | 500 | 700 | 900 | 1100 | 1300 |
溫度范圍 |
（A-45℃ B-55℃ C-65℃ 高溫區(qū)：+60℃-150℃ 低溫區(qū)：-10℃--65℃ ） | ||||
升溫時間（蓄熱區(qū)） | RT-200℃約35min | ||||
降溫時間（蓄冷區(qū)） | RT—70℃約55min | ||||
溫度回復/切換時間 | ≤5min / ≤10sec以內 | ||||
溫度精度/分布精度 | ±0.5℃ ±2.5% ℃ | ||||
冷卻方式 | 風、水冷式/雙斷壓縮機 | ||||
電源 | AC380V+±10%V 50HZ/60HZ | ||||
三、二箱冷熱沖擊試驗機價格執(zhí)行標準：
1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環(huán)境試驗
第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則
4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗
5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
8.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件
四、二箱冷熱沖擊試驗機價格供電條件及電源：
AC380V三相四線 +保護接地
電壓允許波動范圍：±10%V
頻率允許波動范圍：（50±0.5）ＨZ
TN-S方式供電或TT方式供電
保護地線接地電阻小于4Ω
要求用戶在安裝現場為設備配置相應容量的空氣或動力開關，并且此開關必須獨立控制本設備使用
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