一、冷熱沖擊試驗箱簡介：

  冷熱沖擊試驗箱廣泛應用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車、通訊、集成電路、半導體等領域，可發(fā)現(xiàn)產品潛在缺陷，做應力篩選試驗，提高產品的可靠性和進行產品質量控制。

二、冷熱沖擊試驗箱技術參數(shù)：

三、二箱冷熱沖擊試驗機執(zhí)行標準：

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環(huán)境試驗

第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則

4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件

8.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件

四、二箱冷熱沖擊試驗機使用環(huán)境條件：

1. 環(huán)境溫度為5～30℃、相對濕度≤85%R.H；
2. 安裝場地必須是平坦無振動之地面；
3. 設備需遠離熱源及易燃、易爆物質；
4. 安裝位置不能受陽光直接照射，并維持室內空氣流通；
5. 設備安裝場地需清潔，不能安裝在灰塵較多的地方或排塵口等